佐賀大学教育学系 理数系グループ

分析装置

XRFとEPMAが自由に使えます



波長分散型蛍光X線分析装置(XRF)

メーカー
RIGAKU
型式
ZSX Primus II
管球
Rh
出力
4kW
照射方式
上面照射


岩石,鉱物,セラミックス,鉱石,土壌など、さまざまな物質の測定が行なえます。
フィルター法を用いることにより、液体中の金属成分の測定も可能です。

通常は検量線法による定量測定で、FP法(ファンダメンタル・パラメーター法)による半定量分析もできます。散乱線FP法のプログラムも内蔵されています。
1:1希釈のガラス円板と,粉末プレスペレットで検量線をそれぞれ作成しています。
火成岩だけではなく石灰岩のような堆積岩から,汚泥などの物質まで検量線法で測定可能です。

検量線法による現在測定可能な成分は,主成分元素に加え,F, S, Sc, V, Cr, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, As, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Cd, Sn, Ba, Hf, Pb, La, Ce, Nd, Sm, Th, Uです。

石器の分析例

マッピングフォルダー

Y型フォルダー

石鏃の測定

ページの先頭へ

その他


JEOL JXA-8100 4ch構成 B〜Uまで測定可能
(依頼分析や機器が使用したいなど,自由に受け付けます)
JEOLのEPMAは,本研究室の最大の研究ツールです。


(株)東京科学(現:アメナテック) NT-2100型



Nikon ECLIPSE LV100N POL



リガク ミニフレックス



Swift オートマチックポイントカウンター


石工室


岩石切断 一次カッター2台
岩石切断 二次カッター2台
グラインダー 4面
プレパラップ 2台

ページの先頭へ

天体観測関係


教育学部5号館屋上のスライディングルーフ




赤道儀:Takahashi EM-400 Temma2M
ステラナビゲーターによる自動導入
鏡筒:Takahashi ニュートンカセグレン CN-212(口径21cm)


五藤光学 口径8cm屈折望遠鏡(F12)

ページの先頭へ

土星

M42 オリオン大星雲