分析装置
XRFとEPMAが自由に使えます
波長分散型蛍光X線分析装置(XRF)
メーカー
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RIGAKU
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型式
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ZSX Primus II
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管球
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Rh
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出力
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4kW
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照射方式
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上面照射
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岩石,鉱物,セラミックス,鉱石,土壌など、さまざまな物質の測定が行なえます。
フィルター法を用いることにより、液体中の金属成分の測定も可能です。
通常は検量線法による定量測定で、FP法(ファンダメンタル・パラメーター法)による半定量分析もできます。散乱線FP法のプログラムも内蔵されています。
1:1希釈のガラス円板と,粉末プレスペレットで検量線をそれぞれ作成しています。
火成岩だけではなく石灰岩のような堆積岩から,汚泥などの物質まで検量線法で測定可能です。
検量線法による現在測定可能な成分は,主成分元素に加え,F, S, Sc, V, Cr, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, As, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Cd, Sn, Ba, Hf, Pb, La, Ce, Nd, Sm, Th, Uです。